本研究では、ドローンを用いて上空からEL(Electro luminescence)画像の撮影を行い、太陽電池（PV）の不具合であるPID現象を発見するだけでなく出力低下まで一度に推定する方法の確立を目指しています。PID現象は発生時の初期症状においてPVセルのシャント抵抗（Rsh）が大幅に低下することが報告されています。山中研究室では、 EL画像のセル1枚毎の輝度の低下からセル毎のRshを推定し、I-V特性をシミュレーションすることで、PID現象による出力低下をEL画像1枚から推定できると考えています。今回の発表では、研究の基礎であるEL画像の輝度の低下とRshの関係をセル単位で検討し、相関性を明らかにしました。